Тестирование озу

Низкоуровневое программирование портов, микроконтроллеров и т.д.

Модератор: Andy

Ответить
dimapo
Сообщения: 1
Зарегистрирован: 27 ноя 2012, 15:23

Тема – тест ОЗУ микропроцессорной системы (на х88). Курсовой. Алгоритм теста – попарное считывание по диагонали. Алгоритм приведен ниже.
По алгоритму: ASR –адрес контролируемая ячейка памяти, AIJ – остальные ячейки памяти. S, I номера строки, R, J номера столбцов. L и M конечные номера ячеек строки и столбца соответственно.
В контролируемую ячейку ASR записывается 0, в остальные ячейки 1. Затем происходит считывание ячеек и контролируется правильность записи.
Микросхема ROM известна ( КР556РТ16. 64К(8Кх8))

Теперь вопрос:
1. Каким образом обращаться к ячейке памяти? Как матрица? или используя базово -индексную адресацию.? Как это прописать, учитывая что нужно смещаться и по строкам и по столбцам.

Где-то видел ;------ввод массива-----
mov si,0 ;j
mov bx,0 ;i
mov cx,10

forI:
push cx
mov cx,10
mov si,0

forJ:
mov ah,1h
int 21h

mov array[bx][si],al

mov ah,2h
mov dl,' '
int 21h

inc si
loop forJ

Может так mov array[bx][si],al ????
Ребята подскажите чего нить, пожалуйста
Вложения
str10_1..jpg
str10_2..jpg
Ответить